IC-Reverse-Engineering ist ein komplexer Prozess der Hardware-Designanalyse und Firmware-Wiederherstellung. Er umfasst die detaillierte Untersuchung integrierter Schaltungen oder Mikrocontroller, um deren Architektur, Logik und eingebettete Firmware zu verstehen. Diese professionelle Dienstleistung ist unerlässlich für die Wartung älterer Systeme, die Hardware-Forensik und die Interoperabilitätsforschung und ermöglicht es Ingenieuren, kritische Daten von älteren oder nicht mehr unterstützten Komponenten zu sichern.
Entschichtung von Schaltungen durch chemisches Ätzen oder mechanisches Polieren.
Verwendung hochauflösender REM-Bilder zur Ermittlung der Konnektivität auf Transistorebene.
„Es geht nicht nur um Duplikation; es ist ein wichtiges Werkzeug für ein tiefes Verständnis fortschrittlicher Technologien und des Patentschutzes.“
Mit über 15 Jahren Erfahrung haben wir mehr als 1.000 Hardware-Analyse- und Firmware-Wiederherstellungsprojekte erfolgreich abgeschlossen. Zu unseren Kunden zählen innovative Startups ebenso wie globale Unternehmen aus Branchen wie Automobil, Luft- und Raumfahrt, Industrieautomation, Medizintechnik und Telekommunikation. Wir sind der bevorzugte Partner für Unternehmen, die tiefgreifende Hardware-Kenntnisse und Unterstützung für ältere Systeme benötigen.. Für weitere IC-Modelle kontaktieren Sie uns bitte direkt.
Unsere professionellen Methoden zur Chipanalyse und Datenwiederherstellung.
Wir nutzen fortschrittliche Protokollanalyse, um logische Sequenzen in Firmware zu identifizieren. Durch die Analyse von Ausführungs- und Löschsequenzen in älteren Architekturen wie der ATMEL AT89C-Serie ermitteln wir Zustände, in denen der Speicher zugänglich wird. Unser Team bildet Firmware-Strukturen ab, indem es Datenmuster wie FFFF-Hexadezimalsequenzen erkennt und so eine erfolgreiche Wiederherstellung oder Migration auf moderne Hardwareplattformen gewährleistet.
Dieses nicht-invasive Verfahren überwacht den Stromverbrauch und die elektromagnetischen Emissionen während des Chipbetriebs. Durch die Anwendung fortschrittlicher statistischer Modelle lassen sich logische Zustände und Ausführungsmuster ohne physischen Eingriff ableiten. Diese Methodik ist entscheidend für das Verständnis interner Geräteoperationen und kryptografischer Prozesse und ermöglicht einen tiefen Einblick in das Funktionsverhalten und den Datenfluss des Chips.
Durch gezielte Spannungsimpulse oder Takttransienten analysieren wir das Prozessorverhalten unter anormalen Betriebsbedingungen. Diese Stresstestmethode hilft, versteckte Schwachstellen im Design aufzudecken und die Gesamtrobustheit des Systems zu verbessern. Sie ermöglicht es Ingenieuren, kritische Fehlerpunkte zu lokalisieren und die Kontrollflusslogik zu rekonstruieren, die nur bei bestimmten Umgebungsschwankungen oder Hardwareausnahmen auftritt.
Mithilfe hochpräziser Submikron-Messstationen extrahieren wir Signale direkt von der internen Metallverdrahtung des ICs. Dieser physikalische Ansatz ermöglicht die Echtzeit-Funktionsverifizierung und die präzise Datenpfadabbildung. Durch Umgehen externer Sicherheitspins und direkte Anbindung an den internen Bus können wir die Befehlsausführung und Registerzustände beobachten, die externen Debugging-Tools sonst verborgen bleiben.
Spezielle UV-Bestrahlungsverfahren werden zur Analyse von OTP-Speicherstrukturen (One-Time Programmable) eingesetzt. Diese Technik ermöglicht die Datenwiederherstellung für die Migration von Altsystemen durch Manipulation der Floating-Gate-Ladungen. Sie ist unerlässlich für die Wiederherstellung von Firmware auf ausgemusterten Industriechips, bei denen der Originalcode verloren gegangen ist, und bietet somit einen zuverlässigen Weg zur Wartung kritischer Infrastrukturen und älterer Hardware.
Wir nutzen architektonische Designmerkmale für die fortschrittliche Datenwiederherstellung. Durch die Identifizierung spezifischer Hardware-Flags oder logischer Flipflops (FFs) innerhalb der Speicherstruktur analysieren wir den Zustand des Chips, um die Firmware präzise zu extrahieren. Diese Methode ist besonders effektiv für die ATMEL 51-Serie (AT89C51), da die Byte-Ebene-Analyse es Ingenieuren ermöglicht, den Zugriff auf kritischen Code wiederherzustellen, der durch Hardware-Obsoleszenz verloren gegangen ist.
Die fokussierte Ionenstrahltechnologie (FIB) ist unser führendes Verfahren zur präzisen Wiederherstellung von Schaltungen. Nach der chemischen Entkapselung modifizieren wir interne Logikpfade im Nanometerbereich mittels Elektronenmikroskopie. Dies ist ideal für Projekte mit Sicherheitssicherungen der TI MSP430-Serie (MSP430F1101A, F149, F425). Durch die Wiederherstellung der Schaltungszustände ermöglichen wir die Firmware-Wiederherstellung von geschützten Geräten, wenn der ursprüngliche Quellcode nicht verfügbar ist.
Bei hochkomplexen CPLD- und DSP-Chips führen wir eine tiefgreifende Strukturanalyse durch, um nicht-funktionale Logikgatter zu umgehen und den Zugriff auf Kernsystemdaten wiederherzustellen. Dieser Prozess beinhaltet die Rekonstruktion komplexer Netzlisten und die Identifizierung verborgener Signalwege innerhalb der Siliziumstruktur. Er ist besonders effektiv für die TMS320-Serie und ermöglicht es Forschern, proprietäre Verarbeitungsalgorithmen für Forschungs- und Entwicklungszwecke wiederherzustellen.
Die einfache Entkapselung dauert 1-3 Tage. Die vollständige Netzlistenextraktion kann je nach Komplexität des Chips und Knotengröße 2-12 Wochen dauern.
Die Kosten variieren stark. Eine einfache Strukturanalyse kann bei 5.000 US-Dollar beginnen, während die vollständige Schaltkreisextraktion für fortgeschrittene Knoten zwischen 50.000 und über 200.000 US-Dollar liegen kann.
Ja, wir verfügen über spezielle Techniken zum Auslesen nichtflüchtiger Speicher (Flash/EEPROM), der Erfolg hängt jedoch von den verwendeten Sicherheitsmechanismen und der Verschlüsselung ab.
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