Análisis del panorama del mercado del embalaje y las pruebas de circuitos integrados
Las pruebas de circuitos integrados (IC) sirven para detectar si el chip presenta defectos de diseño o defectos físicos causados por el proceso de fabricación. El proceso puede llevarse a cabo utilizando diversos métodos de prueba. El encapsulado de circuitos integrados es el proceso de encerrar un circuito integrado (IC) en un encapsulado protector. Este […]
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