La ingeniería inversa de circuitos integrados (CI) es un proceso sofisticado de análisis del diseño de hardware y recuperación de firmware. Implica el estudio detallado de circuitos integrados o microcontroladores para comprender su arquitectura, lógica y firmware integrado. Este servicio profesional es esencial para el mantenimiento de sistemas heredados, el análisis forense de hardware y la investigación de interoperabilidad, ya que permite a los ingenieros recuperar datos críticos de componentes antiguos o sin soporte.
Descapado de circuitos mediante grabado químico o pulido mecánico.
Uso de imágenes SEM de alta resolución para extraer la conectividad a nivel de transistor.
«No es sólo una duplicación; es una herramienta vital para una comprensión profunda de los nodos avanzados y la protección de patentes».
Con más de 15 años de experiencia, hemos completado más de 1000 proyectos de análisis de hardware y recuperación de firmware. Nuestros clientes abarcan desde startups innovadoras hasta empresas globales en sectores como la automoción, la aeroespacial, la automatización industrial, los dispositivos médicos y las telecomunicaciones. Somos el socio predilecto de las empresas que requieren un profundo conocimiento del hardware y soporte para sistemas heredados.. Para más modelos de IC, contáctenos directamente.
Nuestras metodologías profesionales para el análisis de chips y recuperación de datos.
Utilizamos análisis avanzado de protocolos para identificar secuencias lógicas dentro del firmware. Al analizar el tiempo de ejecución y las secuencias de borrado en arquitecturas heredadas como la serie ATMEL AT89C, identificamos estados en los que la memoria se vuelve accesible. Nuestro equipo mapea las estructuras del firmware detectando patrones de datos, como secuencias hexadecimales FFFF, lo que garantiza una recuperación o migración exitosa a plataformas de hardware modernas.
Esta técnica no invasiva monitoriza el consumo de energía y las emisiones electromagnéticas durante el funcionamiento del chip. Mediante la aplicación de modelos estadísticos avanzados, podemos inferir estados lógicos y patrones de ejecución sin intrusión física. Esta metodología es crucial para comprender las operaciones internas del dispositivo y los procesos criptográficos, ya que proporciona una visión profunda del comportamiento funcional y el flujo de datos del chip.
Mediante la aplicación de fallos de voltaje controlados o transitorios de reloj, analizamos el comportamiento del procesador en condiciones operativas anormales. Esta metodología de estrés ayuda a identificar vulnerabilidades de diseño ocultas y a mejorar la robustez general del sistema. Permite a los ingenieros identificar puntos críticos de fallo y reconstruir la lógica del flujo de control que solo surge durante fluctuaciones ambientales específicas o excepciones de hardware.
Utilizando estaciones de sonda submicrónicas de alta precisión, extraemos señales directamente del cableado metálico interno del circuito integrado. Este enfoque físico permite la verificación funcional en tiempo real y un mapeo preciso de la ruta de datos. Al omitir los pines de seguridad externos e interactuar directamente con el bus interno, podemos observar la ejecución de instrucciones y los estados de los registros que, de otro modo, serían invisibles para las herramientas de depuración externas.
Se emplean métodos especializados de irradiación UV para analizar estructuras de memoria programable una sola vez (OTP). Esta técnica permite la recuperación de datos para la migración de sistemas heredados mediante la manipulación de las cargas de puerta flotantes. Es un servicio esencial para restaurar el firmware de chips industriales descontinuados donde se ha perdido el código original, lo que proporciona una vía fiable para el mantenimiento de la infraestructura crítica y el hardware heredado.
Aprovechamos las características del diseño arquitectónico para la recuperación avanzada de datos. Al identificar indicadores de hardware específicos o biestables lógicos (FF) dentro de la estructura de memoria, evaluamos el estado del chip para una extracción precisa del firmware. Esta metodología es muy eficaz para la serie ATMEL 51 (AT89C51), donde el análisis a nivel de byte permite a los ingenieros restaurar el acceso a código crítico perdido por la obsolescencia del hardware.
La tecnología de haz de iones enfocado (FIB) es nuestro método principal para la restauración precisa de circuitos. Tras la desencapsulación química, utilizamos microscopía electrónica para modificar las rutas lógicas internas a escala nanométrica. Esto es ideal para proyectos de la serie TI MSP430 (MSP430F1101A, F149, F425) que involucran fusibles de seguridad. Al restaurar los estados de los circuitos, facilitamos la recuperación del firmware de dispositivos protegidos cuando el código fuente original no está disponible.
Para chips CPLD y DSP de alta complejidad, realizamos análisis estructurales profundos para evitar puertas lógicas no funcionales y restaurar el acceso a los datos centrales del sistema. Este proceso implica la reconstrucción de listas de conexiones complejas y la identificación de rutas de señal ocultas dentro de la estructura de silicio. Es especialmente eficaz para la serie TMS320, ya que permite a los investigadores recuperar algoritmos de procesamiento propietarios para fines de I+D.
La desencapsulación simple tarda de 1 a 3 días. La extracción completa de la lista de conexiones puede tardar de 2 a 12 semanas, dependiendo de la complejidad de los chips y el tamaño del nodo.
Los costos varían considerablemente. Un análisis estructural básico puede partir de $5000, mientras que la extracción completa del circuito para nodos avanzados puede oscilar entre $50 000 y más de $200 000.
Sí, contamos con técnicas especializadas para leer memoria no volátil (Flash/EEPROM), aunque el éxito depende de los fusibles de seguridad específicos y el cifrado utilizado.
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