A engenharia reversa de IC é um processo sofisticado de análise de design de hardware e recuperação de firmware. Envolve o estudo detalhado de circuitos integrados ou microcontroladores para compreender sua arquitetura, lógica e firmware incorporado. Esse serviço profissional é essencial para a manutenção de sistemas legados, análise forense de hardware e pesquisa de interoperabilidade, permitindo que os engenheiros recuperem dados críticos de componentes mais antigos ou sem suporte.
Descamar circuitos através de gravação química ou polimento mecânico.
Utilização de imagens SEM de alta resolução para extrair conectividade ao nível do transístor.
"Não se trata apenas de duplicação; é uma ferramenta vital para a compreensão profunda dos nós avançados e da proteção de patentes."
Com mais de 15 anos de experiência, concluímos mais de 1.000 projetos de análise de hardware e recuperação de firmware. Nossos clientes variam de startups inovadoras a empresas globais em setores como automotivo, aeroespacial, automação industrial, dispositivos médicos e telecomunicações. Somos o parceiro preferencial para empresas que precisam de insights profundos sobre hardware e suporte a sistemas legados. Para mais modelos de IC, entre em contato conosco diretamente.
Nossas metodologias profissionais para análise de chips e recuperação de dados.
Utilizamos análise de protocolo avançada para identificar sequências lógicas dentro do firmware. Ao analisar o tempo de execução e as sequências de apagamento em arquiteturas legadas, como a série ATMEL AT89C, identificamos os estados em que a memória se torna acessível. Nossa equipe mapeia as estruturas do firmware detectando padrões de dados, como sequências hexadecimais FFFF, garantindo a recuperação ou migração bem-sucedida para plataformas de hardware modernas.
Esta técnica não invasiva monitora o consumo de energia e as emissões eletromagnéticas durante a operação do chip. Ao aplicar modelos estatísticos avançados, podemos inferir estados lógicos e padrões de execução sem invasão física. Essa metodologia é crucial para compreender as operações internas do dispositivo e os processos criptográficos, proporcionando uma visão profunda do comportamento funcional e do fluxo de dados do chip.
Ao aplicar falhas de tensão controladas ou transientes de clock, analisamos o comportamento do processador em condições operacionais anormais. Essa metodologia de estresse ajuda a identificar vulnerabilidades ocultas no projeto e a melhorar a robustez geral do sistema. Ela permite que os engenheiros identifiquem pontos críticos de falha e reconstruam a lógica do fluxo de controle que só surge durante flutuações ambientais específicas ou exceções de hardware.
Usando estações de sonda submicrométricas de alta precisão, realizamos a extração de sinal diretamente da fiação metálica interna do IC. Essa abordagem física permite a verificação funcional em tempo real e o mapeamento preciso do caminho dos dados. Ao contornar os pinos de segurança externos e fazer a interface diretamente com o barramento interno, podemos observar a execução de instruções e os estados dos registros que, de outra forma, seriam invisíveis para as ferramentas de depuração externas.
Métodos especializados de irradiação UV são empregados para analisar estruturas de memória One Time Programmable (OTP). Essa técnica permite a recuperação de dados para migração de sistemas legados, manipulando as cargas do portão flutuante. É um serviço essencial para restaurar firmware de chips industriais descontinuados, nos quais o código original foi perdido, fornecendo um caminho confiável para manter infraestruturas críticas e hardware legado.
Aproveitamos as características do projeto arquitetônico para uma recuperação avançada de dados. Ao identificar sinalizadores de hardware específicos ou flip-flops lógicos (FFs) dentro da estrutura da memória, avaliamos o estado do chip para uma extração precisa do firmware. Essa metodologia é altamente eficaz para a série ATMEL 51 (AT89C51), onde a análise em nível de byte permite que os engenheiros restaurem o acesso a códigos críticos perdidos devido à obsolescência do hardware.
A tecnologia Focused Ion Beam (FIB) é o nosso principal método para a restauração precisa de circuitos. Após a descapsulação química, utilizamos microscopia eletrônica para modificar os caminhos lógicos internos em escala nanométrica. Isso é ideal para projetos da série TI MSP430 (MSP430F1101A, F149, F425) que envolvem fusíveis de segurança. Ao restaurar os estados dos circuitos, possibilitamos a recuperação do firmware de dispositivos protegidos quando o código-fonte original não está disponível.
Para chips CPLD e DSP de alta complexidade, realizamos análises estruturais profundas para contornar portas lógicas não funcionais e restaurar o acesso aos dados do sistema central. Esse processo envolve a reconstrução de netlists complexas e a identificação de caminhos de sinal ocultos dentro da estrutura de silício. É particularmente eficaz para a série TMS320, permitindo que os pesquisadores recuperem algoritmos de processamento proprietários para fins de P&D.
A descapsulação simples leva de 1 a 3 dias. A extração completa da lista de redes pode levar de 2 a 12 semanas, dependendo da complexidade do chip e do tamanho do nó.
Os custos variam muito. Uma análise estrutural básica pode custar a partir de US$ 5 mil, enquanto a extração completa do circuito para nós avançados pode variar de US$ 50 mil a mais de US$ 200 mil.
Sim, temos técnicas especializadas para ler memórias não voláteis (Flash/EEPROM), embora o sucesso dependa dos fusíveis de segurança específicos e da criptografia utilizada.
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